全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析儀器

一、產(chǎn)品介紹

ICP-OES MICS系列全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析儀器利用性能可靠的集成固態(tài)射頻電源、穩(wěn)固的恒溫二維分光系統(tǒng)、科研級制冷防溢出CCD檢測系統(tǒng)，結合的光譜校正技術，將ICPOES IICS的操作性、靈活性和可靠性發(fā)揮的超乎想象，日常操作和維護非常簡單，更適合分析實驗的操作要求，實現(xiàn)小型化(miniatorization)、便捷化(Intelligentize)、智能化(Convenience)的光譜儀( Spec仕ometer )。ICP-OES MIC系列全譜直讀電感耦合等離子體發(fā)射光譜分析儀器，可廣泛應用于環(huán)境保護、食品安全、地質(zhì)礦產(chǎn)、冶金、高色金屬、稀土、化工、||伍床醫(yī)藥、石油制昂、半導體、農(nóng)業(yè)研究等各個領域。用于測定不同物質(zhì)中的常里微里、瘦里元素含里，可用于樣目中元素的定性、半定里及精確定里分析，檢出限可達十億分之一級。

二、性能指標

檢測器:

高效半導體制冷的CCD固體檢測器，在光譜儀波長范圍內(nèi)具有連續(xù)像素，能任意選擇波長，且具有天然的防溢出功能設計。檢測單元:大于3,000，000個檢測單元，讀取速度2Mz°

像素分辨率:<0.003rm。

檢測器制冷系統(tǒng):為獲得的檢測器暗電流，采用高效三級半導體制冷。

工作溫度:<-45℃，到達工作溫度的時間:く3 分鐘。

光學系統(tǒng):恒溫驅氣型中階梯分光系統(tǒng)。

單色器:中階梯光棚和棱鏡二維色散系統(tǒng)，高能里，為保證儀器測試的穩(wěn)定性，光柵和棱道等內(nèi)光路部件位置固定不動，在光譜儀全波長范圍內(nèi)一次曝光同時測定所有元素。

光室:帶精密光室恒溫38℃±0.1℃，可使用氙氣或氮氣進行光室吹掃，測定<200nm譜線時驅氣里<3L/min。

波長范圍:167-1000r，全波長覆蓋。

光學分辨率(FHW):As189.042rm半峰寬<0.007nm，Ca393.366mmn半峰寬<0.017nm，Ba614.172半峰寬<0.024rm，K766.490mm半峰寬<0.035rm為保證光學系統(tǒng)的穩(wěn)定性和優(yōu)良的光通里，焦距為280mm。

等離子體:

等離子體觀察方式:炬管垂直放置

RF發(fā)生器:固態(tài)發(fā)生器，等離子體線圈具有聚四氟乙烯保護層設計，防腐蝕，免維護。

頻率:27.12MHZ。

RF功率多1300W。

氣路控制:配置3路高精度質(zhì)里流里控制器，由ICP-0ES軟件直接控制，包括冷卻氣、輔助氣、霧化氣。精度0.01 L/min。

蠕動泵:5通道16滾輪蠕動泵。

分析性能:

分析速度:>每分鐘50個元素或譜線，而且每條測里譜線的積分時間>10秒;樣品消耗量:<2ml，測定大于70個元素;

譜線靈活性:可對分析元素的任何一條譜線進行定性、半定量和定里分析，便于分析研究。

測定譜線的線性動態(tài)范圍:>106(以mn257.6nm 來測定，相關系數(shù)>0.9996)，提供證明材料。

內(nèi)標校正:同時的內(nèi)標校正，即內(nèi)標元毒和測量元毒必須同時曝光。

精密度:測定1ppm或10ppm多元素混合標準溶液，重復測定十次的RSD0.5%。

穩(wěn)定性:測定1ppm或10ppm多元素混合標準溶液，不使用內(nèi)標校正，連續(xù)測定4小時的長時間穩(wěn)定性RSD<1.0%。